低濕試驗(yàn)箱

簡要描述：低濕試驗(yàn)箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

所屬分類：低濕試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-05-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	儀器種類	立式
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價(jià)格區(qū)間	10萬-20萬
應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,航天,汽車,電氣

低濕試驗(yàn)箱除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等，去檢測產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計(jì)，半導(dǎo)體破壞率：59%是由靜電所引起的。
符合性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到間量測程序*性(含測試步驟、條件、方法)避免認(rèn)知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。

低濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

5%RH：10℃/5%RH、20℃/5%RH、50℃/5%RH；

7%RH：40℃/7%RH；

10%RH：10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、55℃/10%RH；

15%RH：10℃/15%RH；

20%RH：20℃/20%RH；

采用德國干燥吸附式技術(shù)，有效控制產(chǎn)品在受熱脹冷縮時(shí)表層凝露及低濕效果

行業(yè)優(yōu)勢(shì)：

◆濕度效應(yīng)可以達(dá)到10℃/5%RH效能，除濕速度快
◆長時(shí)間超低濕運(yùn)轉(zhuǎn)冷排不結(jié)霜技術(shù)
◆可執(zhí)行結(jié)露試驗(yàn)前的干燥階段試驗(yàn)條件
◆通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存下載功能
◆機(jī)臺(tái)多重報(bào)警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能
◆安全的水路系統(tǒng)和再生用水環(huán)循系統(tǒng)
◆全自動(dòng)配合待測品負(fù)載量控制壓縮機(jī)冷媒流量達(dá)到省電目的
◆防止靜電降耗能力強(qiáng)，達(dá)到同行業(yè)中完美狀態(tài)

技術(shù)規(guī)格：更多型號(hào)歡迎登錄sethtest或！

型號(hào)	SEK-800	SEK-1000
內(nèi)箱尺寸 W×D×H cm	100×80×100	100×100×100
外箱尺寸 W×D×H cm	165×125×195	165×155×195
溫度范圍	-70℃,-60℃,-50℃,-40℃,-30℃,-20℃,-10℃,0℃~150℃
濕度范圍	5%RH～98%RH
時(shí)間范圍	0 hour 1 min～9999 hour 59 min/segment
分辨率	0.01℃/min,0.1%RH/min
溫濕度均勻度	±0.2℃，±2.0%RH
控制器	韓國